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瑞士INFICON英福康 泄露检测仪 UL6000 Fab系列 电/微 详询15713876121
半导体应用氦气检漏仪系列:
INFICON UL6000 Fab产品系列专为满足*关键和苛刻的检漏应用而设计。UL6000采用经现场验证的真空设计,搭载INFICON**软件算法I·CAL和
HYDRO·S,
提供灵活的测试能力、高灵敏度和快速准确的结果,使任何检漏应用都变得快速简便。
UL6000 在所有测量范围内均能提供*快的响应时间,并在达到测试条件和*终结果方面具有极短的循环时间。专门设计的真空架构可提供您所要求的持续
高氦气抽速和极快的响应时间。
高效的泄漏测试:
泄漏检测既耗时又复杂。通过测量压力上升率,半导体和真空装备在运行期间会受到持续监测。一旦这种集成泄漏测试指示存在泄漏,随后将使用氦气喷雾
法定位泄漏位置,以便进行必要的维修。之后会进行另一次泄漏测试,使用压力增加法或所谓的真空衰减测量法——这是一个复杂的过程,需要重复进行,
直到检测到所有泄漏。此外,为了尽可能**,对于大型装备体积,该程序的测量时间通常特别长。得益于I·RISE(我们的智能升压速率功能),UL6000
Fab PLUS能够自动执行压力增加测量,并将其与氦气喷雾法相结合。我们的**系统使测量时间大幅下降,从而有助于*大限度地减少全年龄漏检测试和晶
圆厂装备维护的总体时间。体验更快、更**的测量结果——无论腔室体积大小,均可在10秒内完成。
优势:
Fab产品系列:
*先进的传感器技术
HYDRO-S(氢气抑制)功能可使测试条件快速达成。
I-CAL(智能泄漏率计算算法)确保在所有测量范围内都能快速响应泄漏。
特制的多进气口涡轮分子泵,在所有压力下均能提供优化的氦气抽速和高氦气压缩比,从而实现**的灵敏度、响应速度和快速清理效果。
增压涡轮分子泵,可对任何测试对象(包括*大体积和腔室)实现极速响应。
经市场验证的INFICON磁扇区质谱仪,凭借无故障、免维护的设计,多年来始终提供准确且可重复的结果。
具备保护UL6000免受氦气和颗粒污染的自我保护功能,甚至还有自动吹扫循环,确保UL6000在您需要时随时待命。
可旋转的显示/控制界面,以及可选的远程手柄,以提供操作灵活性。
可通过软件启用对单元和系统软件的访问控制,以防止未经授权的使用或对测试设置的意外修改。
通过电子邮件获取软件更新,让您的UL6000保持*佳性能。
工作站设计拥有*佳高度的工作台面,包含防静电垫和工具箱,方便测试。
Fab PLUS 产品系列:
配备I·RISE,我们的智能升压技术:提供设备内压力增加测试,并结合氦气喷涂法
10秒内的升压率测量
有助于缩短泄漏测试和制造装备维护的总体时间
更快的速度,更高的精度
典型应用:
用于半导体和平面显示工具的组件、子组件及大型腔室的检漏测试
半导体和平面工具的检漏测试
航空航天零部件、子组件及系统的泄漏测试
储罐/储罐的泄漏测试
规格:
氦气*小检漏率(真空法):<5×10⁻¹² 毫巴・升 / 秒
氦气*小检漏率(嗅探模式):<5×10⁻⁸ 毫巴・升 / 秒
*大入口压力(MASSIVE 模式):标准大气压(约 1013 毫巴)
粗抽泵类型:罗茨泵
粗抽泵的*大抽速:>36 立方米 / 小时
入口抽速(100-1000 毫巴):23 立方米 / 小时
进口抽速(10-100 毫巴 和 1-10 毫巴):26 立方米 / 小时
*大氦气抽速(ULTRA 模式):>36 升 / 秒
*大氦气抽速 DN63 转 DN40:约 30 升 / 秒
50 升的响应时间:1.4 秒
抽至 1 毫巴的抽气时间(50 升):52 秒
抽至 1 毫巴的抽气时间(100 升):104 秒
抽至 1 毫巴的抽气时间(500 升):527 秒
抽至 1 毫巴的抽气时间(1000 升):1054 秒
向大气排放 50 升耗时:16 秒
启动就绪时间:<2 分钟
校准时间:<30 秒
进口法兰:DN63 ISO-K
可检测质量(ULTRATEST 传感器技术):2,3,4(氢气、氦 3、氦 4)
电源电压:100 至 230 伏,50/60 赫兹
*大功耗:1500 伏安
典型功耗:700 伏安
重量:143 公斤
尺寸(长 × 宽 × 高):1050×427×1040 毫米;42×21×41 英寸



