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DW-015H/A-01S半导体用双头针TESPRO泰普探针
日期：2025-06-06 03:33
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摘要：DW-015H/A-01S半导体用双头针TESPRO泰普探针
DW-015H/A-01S半导体用双头针TESPRO泰普探针
DW-015H/A-01S半导体用双头针TESPRO泰普探针
DW-015H/A-01S半导体用双头针TESPRO泰普探针
DW-015H/A-01S半导体用双头针TESPRO泰普探针
DW-015H/A-01S半导体用双头针TESPRO泰普探针
双侧可动 Φ0.30～
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DW-015H/A-01S半导体测试用双头针TESPRO泰普探针
DW-015H/A-01S半导体测试用双头针TESPRO泰普探针标准品规格
弹力（ｇｆ）
＠**行程（ｍｍ） -大行程 DUT侧针轴材质 适用温度（℃）
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铍铜BeCu 镀金
-55～+180
DW-015H/A-01S半导体用双头针TESPRO泰普探针
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DW-015H/A-01S半导体测试用双头针TESPRO泰普探针
DW-015H/A-01S半导体测试用双头针TESPRO泰普探针标准品规格
弹力（ｇｆ）
＠**行程（ｍｍ） -大行程 DUT侧针轴材质 适用温度（℃）
6.6＠0.30
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铍铜BeCu 镀金
-55～+180