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动态详情
40GHｚ垂直导电胶镀金导电钻石系列泰普TESPRO
日期：2025-06-07 19:23
浏览次数：270
摘要：40GHｚ垂直导电胶镀金导电钻石系列泰普TESPRO
40GHｚ垂直导电胶镀金导电钻石系列泰普TESPRO
40GHｚ垂直导电胶镀金导电钻石系列泰普TESPRO
适合BGA（*大2410 balls）测试。
适合无铅焊锡、有氧化膜等待测物测试。
间隔为"0"电感、"0"电容、阻抗増幅小于1％ ，可以测试40GHｚ+高频。
测试寿命10万次（信号强度无劣化）
可以测试到15Ａ的大电流（待测Pad直径10mil时）。
适合Burn-in老化测试。
可以进行40GHz高频测试插座的设计及制作。
40GHｚ垂直导电胶镀金导电钻石系列泰普TESPRO
40GHｚ垂直导电胶镀金导电钻石系列泰普TESPRO
40GHｚ垂直导电胶镀金导电钻石系列泰普TESPRO
适合BGA（*大2410 balls）测试。
适合无铅焊锡、有氧化膜等待测物测试。
间隔为"0"电感、"0"电容、阻抗増幅小于1％ ，可以测试40GHｚ+高频。
测试寿命10万次（信号强度无劣化）
可以测试到15Ａ的大电流（待测Pad直径10mil时）。
适合Burn-in老化测试。
可以进行40GHz高频测试插座的设计及制作。
40GHｚ垂直导电胶镀金导电钻石系列泰普TESPRO
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40GHｚ垂直导电胶镀金导电钻石系列泰普TESPRO
40GHｚ垂直导电胶镀金导电钻石系列泰普TESPRO
适合BGA（*大2410 balls）测试。
适合无铅焊锡、有氧化膜等待测物测试。
间隔为"0"电感、"0"电容、阻抗増幅小于1％ ，可以测试40GHｚ+高频。
测试寿命10万次（信号强度无劣化）
可以测试到15Ａ的大电流（待测Pad直径10mil时）。
适合Burn-in老化测试。
可以进行40GHz高频测试插座的设计及制作。
详细规格
| 电气特性 |
≧40GHz 帯域（インサーション損失）～40GHz戻り損失 |
| 接点规格 | 采用化学电镀 |
| 10-20μm 导电钻石 | |
| 10μ"镀金 | |
| 接点*小间隔10μm | |
| RoHS、无铅标准 | |
| Pin数 | ＞2000 |
| 维护保养 | 接点表面可以再次研磨、或超声波洗净 |
| 信赖性 | 10万次（信号强度无劣化） |
| 弹力 |
電気的特性を保持するためにパッド当たり10-15ｇの圧力 |
| 电流 |
15A/Φ10mil Pad |
| 适用温度 | -60℃～200℃（卡普顿薄膜） |
40GHｚ垂直导电胶镀金导电钻石系列泰普TESPRO