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日本电测DENSOKU电解式膜厚仪CT-3

日期：2025-08-29 23:19

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摘要：日本电测DENSOKU电解式膜厚仪CT-3联系人卫经理18538758921

日本电测DENSOKU电解式膜厚仪CT-3联系人卫经理18538758921

基本参数：

测量范围：0.006-300μm。

低分辨率：0.001μm。

机体精度：±1%。

测量面积：根据垫片类型不同，分别为 3.4mmφ、2.4mmφ 和 1.7mmφ。

电解速度：125、12.5、1.25nm/sec。

测量单位：μm 或 nm。

电源供应：AC100V（110V，220V），50/60Hz。

重量：3.0kg（仅机身）。

功能特点：

操作便捷：所有设置通过拨盘进行，可轻松进行待测镀层的设置。采用 jog lever（微动操纵杆）操作，具有出色的操作性，可提高设置效率。

测量精度高：可高精度测量多种金属镀层及合金镀层，如金、银、化学镍、铟、硬铬、装饰铬等，还可高精度测量其它方式不易测量的三层以上的镀层。

适用范围广：支持多种电镀的高精度膜厚测量，除平板形外，还可通过提供的图表测量圆形、棒形等各种形状。

具备主动功能：主动功能可去除一些氧化膜，从而减少由于氧化膜导致的测量失败。

数据处理功能：有统计处理功能，可在屏幕上显示数据，*多可注册 50 个测量通道，还可轻松测量单位面积的重量计算差异。

操作流程：

打开电源开关，使用标准片进行校正。

根据被测镀层类型，设定镀层选择旋钮，选择适当量程和对应的测头切换钮。

将 START&STOP 开关往上拨动，开始测量，测量值会显示在屏幕上。

测量结束后，用废液瓶吸出电解槽中的废液，注入清水清洗电解槽和搅拌管，擦干保存

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